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光學平臺的生產意義及測量方法

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光學平臺的生產意義及測量方法

發布日期:2019-05-05 作者: 點擊:

光學隔振臺生產意義

當今科學界的科學實驗需要越來越精密的計算和測量,因此一個能與外界環境和干擾相對隔離的設備儀器對實驗的結果測量時非常重要的。能夠固定各種光學元件以及顯微鏡成像設備等的光學平臺也成為科研實驗中必備的產品。光學平臺Z主要的一個目標是消除平臺上任意兩個以上部件之間的相對位移。

測試方法

阻尼

光學平臺或面包板Z重要的特性為其共振頻率。共振頻率和振幅是負相關的,因此共振頻率應盡可能地增大,從而將振動強度Z小化。平臺和面包板會在一個特定的頻率范圍內發生振動。為了改善性能,每種尺寸的平臺和面包板的阻尼效果都需要進行優化。

平臺阻尼需要進行各種測試,對其厚度/面積的比值進行優化。更大面積的平臺(邊長至少為10英尺或3米)具有厚度為12.2英寸(310毫米)的標準厚度,這樣可以提高穩定性。對于更小面積的平臺,厚度可以是8.3英寸(210毫米)或12.2英寸(310毫米),也可定制更大尺寸。

柔量

光學平臺Z廣泛使用的振動響應傳遞函數為柔量。在恒定(靜態)力的情況下,柔量可以定義為線性或角度錯位與所施加外力的比值。在動態變化力(振動)的情況下,柔量則可以定義為受激振幅(角度或線性錯位)與振動力振幅的比值。平臺的任意撓度都可以通過安裝在平臺表面的部件相對位置變化表現出來。因此,根據定義,柔量值越小,光學平臺就越接近設計的首要目標:將撓度Z小化。柔量是與頻率相關的,其測量單位為沒單位力的錯位量(米/牛頓)。

測量方法

使用脈沖錘對平臺或面包板的表面施加一個已測量的外力,并將一個傳感器貼合在平臺或面包板表面對合成振動進行測量。

探測器發出的信號通過分析儀進行讀取,并用于產生頻率響應譜(即柔量曲線)。在光學平臺的研發過程中,對平臺表面上很多點的柔量曲線進行記錄;但是,平臺四個角上的柔量往往都是Z大的。因此公司發布的柔量曲線和數據都是通過平傳感器在臺四個角上測得的,因此說明了Z不理想情況下的數據結果。

單測數據

產品都需經過獨立測試,并附帶一份單獨的測試數據報告和柔量曲線。這樣一來,就可以提供比采用單一尺寸柔量曲線表示所有產品特性的工業標準更數據。柔量曲線和數據都是通過平傳感器在臺四個角上測得的,因此說明了Z不理想情況下的數據結果。

電動二維平移臺


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